Process control and quality control in the metal industry - whether it concerns primary metals or special products - are driven by rapid and accurate chemical analysis, by structural characterization of metals and alloys as well as particle size and particle size distribution, particle shape, surface area, and density.

This requires robust and reliable technology. We provide solutions that can satisfy these demands, streamline production and save time for high throughput environments such as iron and steel, aluminium, copper and titanium industries.?

Malvern Panalytical’s instrumentation makes it easy to test in both wet and dry environment during research and development and for quality control during manufacture to:

  • Improve final product performance
  • Optimize production processes?
  • Understand the mechanical properties of the metals

Серия Mastersizer

Серия Mastersizer

Наиболее распространенные в мире анализаторы размеров частиц (лазерные гранулометры)

Подробнее
Измерение Размер частиц (гранулометрический состав)
Диапазон размеров частиц 0.01мкм - 3500мкм
Технология Лазерная дифракция
Тип диспергирования Жидкие, Сухой (процесс, способ измерения, вид образца), Жидкий и сухой

Серия Morphologi

Серия Morphologi

Автоматизированная визуализация для улучшенной характеризации частиц

Подробнее
Измерение Химический состав, Форма частиц, Размер частиц (гранулометрический состав)
Диапазон размеров частиц 0.5мкм - 1000мкм
Технология Анализ изображения
Тип диспергирования Жидкие, Спреи и Аэрозоли

Empyrean

Empyrean

Интеллектуальный дифрактометр

Подробнее
Измерение Crystal structure determination, Идентификация фаз, Phase quantification, Contaminant detection and analysis, Residual stress, Epitaxy analysis, Interface roughness, Анализ текстур, 3D structure / imaging, Reciprocal space analysis
Конфигурация гониометра Vertical goniometer, Θ-Θ
Диапазон размеров частиц 1 - 100 nm
Технология X-ray Diffraction (XRD)

Исполнение Aeris Metals (для анализа металлов)

Исполнение Aeris Metals (для анализа металлов)

Оптимизация процесса изготовления стали

Подробнее
Измерение Crystal structure determination, Идентификация фаз, Phase quantification
Материал анода рентгеновской трубки Co / Cu (option)
Детектор PIXcel1D
Технология X-ray Diffraction (XRD)

Zetium, версия Metals (для металлов)

Zetium, версия Metals (для металлов)

Новый элемент в металлах

Подробнее
Измерение Исследования тонких пленок, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification
Скорость обработки образца 160per 8h day - 240per 8h day
Источник питания 2,4-4 kW
Технология Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)

Axios FAST

Axios FAST

Высокая производительность

Подробнее
Измерение Исследования тонких пленок, Elemental analysis, Elemental quantification
Диапазон элементов Be-U
Разрешение (Mg-Ka) 35eV
LLD 0.1 ppm - 100%
Скорость обработки образца 240per 8h day - 480per 8h day
Технология Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)

Серия Mastersizer

Серия Mastersizer

Наиболее распространенные в мире анализаторы размеров частиц (лазерные гранулометры)

Серия Morphologi

Серия Morphologi

Автоматизированная визуализация для улучшенной характеризации частиц

Empyrean

Empyrean

Интеллектуальный дифрактометр

Исполнение Aeris Metals (для анализа металлов)

Исполнение Aeris Metals (для анализа металлов)

Оптимизация процесса изготовления стали

Zetium, версия Metals (для металлов)

Zetium, версия Metals (для металлов)

Новый элемент в металлах

Axios FAST

Axios FAST

Высокая производительность

Подробнее Подробнее Подробнее Подробнее Подробнее Подробнее
Измерение Размер частиц (гранулометрический состав) Химический состав, Форма частиц, Размер частиц (гранулометрический состав) Crystal structure determination, Идентификация фаз, Phase quantification, Contaminant detection and analysis, Residual stress, Epitaxy analysis, Interface roughness, Анализ текстур, 3D structure / imaging, Reciprocal space analysis Crystal structure determination, Идентификация фаз, Phase quantification Исследования тонких пленок, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification Исследования тонких пленок, Elemental analysis, Elemental quantification
Диапазон размеров частиц 0.01мкм - 3500мкм 0.5мкм - 1000мкм 1 - 100 nm      
Конфигурация гониометра     Vertical goniometer, Θ-Θ      
Материал анода рентгеновской трубки       Co / Cu (option)    
Детектор       PIXcel1D    
Скорость обработки образца         160per 8h day - 240per 8h day 240per 8h day - 480per 8h day
Источник питания         2,4-4 kW  
Диапазон элементов           Be-U
Разрешение (Mg-Ka)           35eV
LLD           0.1 ppm - 100%
Технология Лазерная дифракция Анализ изображения X-ray Diffraction (XRD) X-ray Diffraction (XRD) Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)
Тип диспергирования Жидкие, Сухой (процесс, способ измерения, вид образца), Жидкий и сухой Жидкие, Спреи и Аэрозоли        

Серия Mastersizer

Серия Morphologi

Серия Empyrean

Исполнение Aeris Metals (для анализа металлов)

Zetium, версия Metals (для металлов)

Axios FAST

Серия Mastersizer Серия Morphologi Серия Empyrean Исполнение Aeris Metals (для анализа металлов) Zetium, версия Metals (для металлов) Axios FAST

Наиболее распространенные в мире анализаторы размеров частиц (лазерные гранулометры)

Автоматизированная визуализация для улучшенной характеризации частиц

Многоцелевое решение для ваших аналитических задач

Оптимизация процесса изготовления стали

Новый элемент в металлах

Высокая производительность

Подробнее Подробнее Подробнее Подробнее Подробнее Подробнее
Технология
Лазерная дифракция
Анализ изображения
X-ray Diffraction (XRD)
X-ray Fluorescence (XRF)
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)
色综合欧美在线视频区,日本高清色在线视频免费,国语自产拍在线视频中文