Компания Malvern Panalytical предлагает широкий спектр рентгенофлуоресцентных спектрометров и сопутствующей продукции для элементного анализа и анализа тонких пленок. Эти рентгенофлуоресцентные анализаторы предназначены для широкого диапазона областей применения, в которых важную роль играют мощные аналитические возможности, скорость выполнения анализа и условия эксплуатации. Они представлены в широком диапазоне от настольных энергодисперсионных рентгенофлуоресцентных спектрометров до рентгенофлуоресцентных спектрометров с волновой дисперсией и оборудования для измерений на полупроводниках.

Рентгенофлуоресцентные спектрометры могут быть настроены с помощью специального программного обеспечения для определенных типов XRF-анализа. В сочетании с прикладными модулями (конфигурация, калибровка и стандарты) или в комплекте с оборудованием для подготовки образцов вы получаете полные аналитические решения. Вся продукция Malvern Panalytical поддерживается службой послепродажного обслуживания и отделом обслуживания клиентов.

В нашем Центре знаний вы найдете более подробную информацию о самых интересных способах применения рентгеновской флуоресценции (XRF) с помощью наших спектрометров.

Zetium

Zetium

Элементное превосходство

Подробнее
Измерение Исследования тонких пленок, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification
Диапазон элементов Be-U
Разрешение (Mg-Ka) 35eV
LLD 0.1 ppm - 100%
Скорость обработки образца 160per 8h day - 240per 8h day
Технология Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)

Epsilon 1

Epsilon 1

Компактный, мощный и портативный рентгенофлуоресцентный анализатор

Подробнее
Измерение Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification
Диапазон элементов Na-Am
Разрешение (Mg-Ka) 135eV
LLD 1 ppm - 100%
Скорость обработки образца Up to - 80per 8h day
Технология X-ray Fluorescence (XRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)

Epsilon 4

Epsilon 4

Быстрый и точный элементный анализ рядом с производственной линией

Подробнее
Измерение Исследования тонких пленок, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification
Диапазон элементов C-Am
Разрешение (Mg-Ka) 135eV
LLD 1 ppm - 100%
Скорость обработки образца Up to - 160per 8h day
Технология X-ray Fluorescence (XRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)

Epsilon Xflow

Epsilon Xflow

Прямой мониторинг производственного процесса

Подробнее
Измерение Elemental analysis
Диапазон элементов Na-Am
Разрешение (Mg-Ka) 135eV
LLD 1 ppm - 100%
Скорость обработки образца on-line
Технология Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)

2830 ZT

2830 ZT

Передовое решение для анализа тонких пленок полупроводников

Подробнее
Измерение Химический состав, Исследования тонких пленок, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification
Диапазон элементов Be-U
Разрешение (Mg-Ka) 35eV
Скорость обработки образца up to 25 wafers per hour
LLD 0.1 ppm - 100%
Технология Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)

Axios FAST

Axios FAST

Высокая производительность

Подробнее
Измерение Исследования тонких пленок, Elemental analysis, Elemental quantification
Диапазон элементов Be-U
Разрешение (Mg-Ka) 35eV
LLD 0.1 ppm - 100%
Скорость обработки образца 240per 8h day - 480per 8h day
Технология Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)

Zetium

Zetium

Элементное превосходство

Epsilon 1

Epsilon 1

Компактный, мощный и портативный рентгенофлуоресцентный анализатор

Epsilon 4

Epsilon 4

Быстрый и точный элементный анализ рядом с производственной линией

Epsilon Xflow

Epsilon Xflow

Прямой мониторинг производственного процесса

2830 ZT

2830 ZT

Передовое решение для анализа тонких пленок полупроводников

Axios FAST

Axios FAST

Высокая производительность

Подробнее Подробнее Подробнее Подробнее Подробнее Подробнее
Измерение Исследования тонких пленок, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification Исследования тонких пленок, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification Elemental analysis Химический состав, Исследования тонких пленок, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification Исследования тонких пленок, Elemental analysis, Elemental quantification
Диапазон элементов Be-U Na-Am C-Am Na-Am Be-U Be-U
Разрешение (Mg-Ka) 35eV 135eV 135eV 135eV 35eV 35eV
LLD 0.1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100%
Скорость обработки образца 160per 8h day - 240per 8h day Up to - 80per 8h day Up to - 160per 8h day on-line up to 25 wafers per hour 240per 8h day - 480per 8h day
Технология Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) X-ray Fluorescence (XRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) X-ray Fluorescence (XRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF) Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)

Zetium

Epsilon 1

Epsilon 4

Epsilon Xflow

2830 ZT

Axios FAST

Zetium Epsilon 1 Epsilon 4 Epsilon Xflow 2830 ZT Axios FAST

Элементное превосходство

Компактный, мощный и портативный рентгенофлуоресцентный анализатор

Быстрый и точный элементный анализ рядом с производственной линией

Прямой мониторинг производственного процесса

Передовое решение для анализа тонких пленок полупроводников

Высокая производительность

Подробнее Подробнее Подробнее Подробнее Подробнее Подробнее
Анализируемые свойства
Исследования тонких пленок
Elemental analysis
Contaminant detection and analysis
Elemental quantification
Химический состав
Технология
X-ray Fluorescence (XRF)
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)
Диапазон элементов Be-U Na-Am C-Am Na-Am Be-U Be-U
LLD 0.1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100%
Разрешение (Mg-Ka) 35eV 135eV 135eV 135eV 35eV 35eV
Скорость обработки образца 160per 8h day - 240per 8h day Up to - 80per 8h day Up to - 160per 8h day on-line up to 25 wafers per hour 240per 8h day - 480per 8h day
色综合欧美在线视频区,日本高清色在线视频免费,国语自产拍在线视频中文