Идентификация основной и второстепенной одиночной фазы или нескольких фаз в неизвестном образце — это основное применение стандартной рентгеновской порошковой дифракции. Фаза представляет собой кристаллическое твердое тело с правильным трехмерными расположением атомов. Измеренные положения пиков дифракции и интенсивности представляют собой отпечаток определенной кристаллической фазы. Идентификация осуществляется путем сравнения измеренной схемы с записями в эталонных базах данных с помощью алгоритма поиска и сравнения. Также это называют качественным анализом фазы.

Оптимизированные геометрии измерений

Идентификация фаз является наиболее важной областью применения рентгеновской порошковой дифракции (XRD или XRPD). XRPD применяют не только на порошкообразных образцах, но и на поликристаллических твердых телах, суспензиях и тонких пленках. Образцы неорганических порошков чаще всего измеряют с классической геометрией отражения Брэгга?—?Брентано. С другой стороны, для органических материалов (например, фармацевтических материалов и полимеров), жидко-кристаллических материалов и суспензий обычно предпочтительна геометрия пропускания. Для тонких пленок более всего подходит геометрия скользящего падения.

Ниже приведены типичные примеры применения идентификации фаз:

  • Идентификация минералов?в геологических образцах: идентификация фаз помогает понять механизмы формирования образцов, которые могут предоставить ценную информацию о наличии руды или топлива.
  • Контроль качества руды и породы: для разведки месторождений полезных ископаемых.
  • Обнаружение полиморфов для различения веществ с одинаковым химическим составом в разных фазах определенного материала – важная задача для фармацевтической промышленности.
  • Контроль качества: определение наличия примесей в чистой фазе. Благодаря современной рентгеновской оптике и детекторам можно определить наличие загрязнений до 0,1%?массы
  • Обнаружение фазовых переходов в условиях, отличных от окружающих, например при переменной температуре или влажности
  • Криминалистика:?идентификация фазы может быть решающим фактором при определении происхождения следов, обнаруженных на месте преступления.
  • Коррозия в котельных и на электростанциях: найденные фазы дают ценную информацию об условиях и реакциях, ведущих к возникновению проблем. Они косвенно позволяют понять, какие меры по предотвращению или минимизации коррозии следует принять.
  • Наноматериалы: например, фаза рутила наноструктурного титана применима в УФ-блокировке (например, в солнцезащитных устройствах), в то время как для фотокаталитической активности требуется фаза анатаза.
  • Полимеры и пластмассы: идентификация кристаллических фаз и полиморфов, а также наполнителей методом WAXS (широкоугловое рассеяние рентгеновского излучения).
  • Жидкие кристаллы: идентификация термотропных и лиотропных жидкокристаллических фаз (мезофаз). В поверхностно-активных системах, например, путем малоугловой дифракции.

XRD-решения для идентификации фазы

Рентгеновские дифракционные системы Malvern Panalytical Empyrean с вертикальными платформами гониометра прекрасно подходят для идентификации фаз в порошках, тонких пленках, твердых веществах и суспензиях. Эти многофункциональные приборы используют преимущественно в исследовательских условиях. Также они поддерживают высокопропускной скрининг полиморфов.?

Aeris – настольный дифрактометр с интуитивно понятным пользовательским интерфейсом, лучшим в своем классе качеством данных и высокой пропускной способностью для образцов. Это превосходный прибор для рутинных анализов порошковых и твердых образцов в промышленных и исследовательских условиях.? ?

Приборы?CubiX3?предназначены для специальных промышленных областей применения и оснащены устройством смены образцов и опциями автоматизации для работы с большими объемами образцов.?

HighScore (Plus)?– это мощный пакет программного обеспечения, позволяющий осуществлять поиск пиков и простую идентификацию фаз даже в сложных фазовых смесях. HighScore (Plus) позволяет выполнять одновременный поиск по нескольким эталонным базам данных и включает множество опций для автоматизации и создания отчетов. Прибор также поддерживает кластерный анализ для группирования образцов с аналогичным фазовым составом.

Aeris

Aeris

Выполнение рентгеновской дифракции (XRD) стало проще

Подробнее
Измерение Crystal structure determination, Идентификация фаз, Phase quantification
Материал анода рентгеновской трубки Cu /Co (option)
Технология X-ray Diffraction (XRD)

Empyrean

Empyrean

Интеллектуальный дифрактометр

Подробнее
Измерение Crystal structure determination, Идентификация фаз, Phase quantification, Contaminant detection and analysis, Residual stress, Epitaxy analysis, Interface roughness, Анализ текстур, 3D structure / imaging, Reciprocal space analysis
Конфигурация гониометра Vertical goniometer, Θ-Θ
Диапазон размеров частиц 1 - 100 nm
Технология X-ray Diffraction (XRD)

Aeris

Aeris

Выполнение рентгеновской дифракции (XRD) стало проще

Empyrean

Empyrean

Интеллектуальный дифрактометр

Подробнее Подробнее
Измерение Crystal structure determination, Идентификация фаз, Phase quantification Crystal structure determination, Идентификация фаз, Phase quantification, Contaminant detection and analysis, Residual stress, Epitaxy analysis, Interface roughness, Анализ текстур, 3D structure / imaging, Reciprocal space analysis
Материал анода рентгеновской трубки Cu /Co (option)  
Конфигурация гониометра   Vertical goniometer, Θ-Θ
Диапазон размеров частиц   1 - 100 nm
Технология X-ray Diffraction (XRD) X-ray Diffraction (XRD)

Aeris

Серия Empyrean

Aeris Серия Empyrean

Выполнение рентгеновской дифракции (XRD) стало проще

Многоцелевое решение для ваших аналитических задач

Подробнее Подробнее
Технология
X-ray Diffraction (XRD)
Анализируемые свойства
Идентификация фаз
Материал анода рентгеновской трубки Cu /Co (option)
色综合欧美在线视频区,日本高清色在线视频免费,国语自产拍在线视频中文