Модель Empyrean позволила компании Malvern Panalytical установить новый стандарт в разработке современных платформ для рентгеновских исследований порошков, тонких пленок, наноматериалов и твердых объектов.

Эта система стала ответом компании Malvern Panalytical на трудности анализа современных материалов, где срок службы дифрактометра значительно превышает сроки любого исследовательского проекта.

Система Empyrean — это универсальная платформа для рентгеновских исследований. В отличие от других систем платформа Empyrean разработана с учетом современных условий и отвечает требованиям будущего.

Empyrean

Empyrean

Интеллектуальный дифрактометр

Подробнее
Измерение Crystal structure determination, Идентификация фаз, Phase quantification, Contaminant detection and analysis, Residual stress, Epitaxy analysis, Interface roughness, Анализ текстур, 3D structure / imaging, Reciprocal space analysis
Конфигурация гониометра Vertical goniometer, Θ-Θ
Диапазон размеров частиц 1 - 100 nm
Технология X-ray Diffraction (XRD)

Empyrean Nano Edition

Empyrean Nano Edition

Универсальная платформа для рентгеновского рассеяния

Подробнее
Измерение Абсолютная молекулярная масса, Форма частиц, Размер частиц (гранулометрический состав), Площадь поверхности, Агрегация белков, Protein stability, Идентификация фаз, Phase quantification, Pore size distribution
Конфигурация гониометра Vertical goniometer, Θ-Θ
Диапазон размеров частиц 1 - 100 nm
Технология X-ray Diffraction (XRD), X-ray Scattering

Empyrean Alpha 1

Empyrean Alpha 1

Непревзойденная точность данных с помощью лабораторной системы рентгеновской дифракции (XRD)

Подробнее
Измерение Crystal structure determination, Идентификация фаз, Phase quantification, 3D structure / imaging
Конфигурация гониометра Vertical goniometer, Θ-Θ
Технология X-ray Diffraction (XRD)

Empyrean

Empyrean

Интеллектуальный дифрактометр

Empyrean Nano Edition

Empyrean Nano Edition

Универсальная платформа для рентгеновского рассеяния

Empyrean Alpha 1

Empyrean Alpha 1

Непревзойденная точность данных с помощью лабораторной системы рентгеновской дифракции (XRD)

Подробнее Подробнее Подробнее
Измерение Crystal structure determination, Идентификация фаз, Phase quantification, Contaminant detection and analysis, Residual stress, Epitaxy analysis, Interface roughness, Анализ текстур, 3D structure / imaging, Reciprocal space analysis Абсолютная молекулярная масса, Форма частиц, Размер частиц (гранулометрический состав), Площадь поверхности, Агрегация белков, Protein stability, Идентификация фаз, Phase quantification, Pore size distribution Crystal structure determination, Идентификация фаз, Phase quantification, 3D structure / imaging
Конфигурация гониометра Vertical goniometer, Θ-Θ Vertical goniometer, Θ-Θ Vertical goniometer, Θ-Θ
Диапазон размеров частиц 1 - 100 nm 1 - 100 nm  
Технология X-ray Diffraction (XRD) X-ray Diffraction (XRD), X-ray Scattering X-ray Diffraction (XRD)
色综合欧美在线视频区,日本高清色在线视频免费,国语自产拍在线视频中文