Рентгенофлуоресцентные (XRF) анализаторы серии Epsilon — идеальное аналитическое решение. Они позволяют выполнять не только простые операции идентификации и количественного анализа элементов, но и более сложный анализ. Это простые в эксплуатации, компактные и безопасные рентгеновские приборы, которым не требуются ни дополнительные реагенты, ни рабочие газы. Значительная экономия времени и денег — это всего лишь два из множества преимуществ технологии XRF по сравнению с альтернативными аналитическими методами.?

Epsilon 1

Epsilon 1

Компактный, мощный и портативный рентгенофлуоресцентный анализатор

Подробнее
Измерение Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification
Диапазон элементов Na-Am
Разрешение (Mg-Ka) 135eV
LLD 1 ppm - 100%
Скорость обработки образца Up to - 80per 8h day
Технология X-ray Fluorescence (XRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)

Epsilon 4

Epsilon 4

Быстрый и точный элементный анализ рядом с производственной линией

Подробнее
Измерение Исследования тонких пленок, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification
Диапазон элементов C-Am
Разрешение (Mg-Ka) 135eV
LLD 1 ppm - 100%
Скорость обработки образца Up to - 160per 8h day
Технология X-ray Fluorescence (XRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)

Epsilon Xflow

Epsilon Xflow

Прямой мониторинг производственного процесса

Подробнее
Измерение Elemental analysis
Диапазон элементов Na-Am
Разрешение (Mg-Ka) 135eV
LLD 1 ppm - 100%
Скорость обработки образца on-line
Технология Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)

Epsilon 1

Epsilon 1

Компактный, мощный и портативный рентгенофлуоресцентный анализатор

Epsilon 4

Epsilon 4

Быстрый и точный элементный анализ рядом с производственной линией

Epsilon Xflow

Epsilon Xflow

Прямой мониторинг производственного процесса

Подробнее Подробнее Подробнее
Измерение Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification Исследования тонких пленок, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification Elemental analysis
Диапазон элементов Na-Am C-Am Na-Am
Разрешение (Mg-Ka) 135eV 135eV 135eV
LLD 1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 1 ppm - 100%
Скорость обработки образца Up to - 80per 8h day Up to - 160per 8h day on-line
Технология X-ray Fluorescence (XRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) X-ray Fluorescence (XRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)

Epsilon 1

Epsilon 4

Epsilon Xflow

Epsilon 1 Epsilon 4 Epsilon Xflow

Компактный, мощный и портативный рентгенофлуоресцентный анализатор

Быстрый и точный элементный анализ рядом с производственной линией

Прямой мониторинг производственного процесса

Подробнее Подробнее Подробнее
Анализируемые свойства
Elemental analysis
Contaminant detection and analysis
Технология
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)
Диапазон элементов Na-Am C-Am Na-Am
LLD 1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 1 ppm - 100%
Разрешение (Mg-Ka) 135eV 135eV 135eV
Скорость обработки образца Up to - 80per 8h day Up to - 160per 8h day on-line
色综合欧美在线视频区,日本高清色在线视频免费,国语自产拍在线视频中文